法拉效應塞曼效應綜合實(shí)驗儀HAD-FD-FZ-C

1945年，法拉（Faraday）在探索電磁現象和光學(xué)現象之間的聯(lián)系時(shí)，發(fā)現了種現象，當束平面偏振光穿過(guò)介質(zhì)時(shí)，如果在介質(zhì)中，沿光的傳播方向上加個(gè)磁場(chǎng)，就會(huì )觀(guān)察到光經(jīng)過(guò)樣品后偏振面轉過(guò)個(gè)角度，亦即磁場(chǎng)使介質(zhì)具有了旋光性，這種現象后來(lái)稱(chēng)為法拉效應。1896年,荷蘭物理學(xué)家塞曼(P.Zeeman)發(fā)現當光源放在足夠強的磁場(chǎng)中時(shí)，原來(lái)的條光譜線(xiàn)分裂成幾條光譜線(xiàn)，分裂的譜線(xiàn)成分是偏振的，分裂的條數隨能的類(lèi)別而不同，后人稱(chēng)此現象為塞曼效應。法拉效應和塞 曼 效應是19紀實(shí)驗物理學(xué)家的重要成就之，它們有力的支持了光的電磁理論。

法拉效應塞曼效應綜合實(shí)驗儀HAD-FD-FZ-C

　　本公司的HAD- FD-FZ-C型法拉效應塞 曼 效應綜合實(shí)驗儀是在I型的基礎上改而成，將原來(lái)維調節的氦氖激光器改為兩維調節的半導體激光器，這樣成法拉效應時(shí)調節更加準確方便，并且激光輸出率更加穩定。電磁鐵中心磁場(chǎng)強度也比以前有了顯著(zhù)提，大可以達到1.4T。測角儀器將原來(lái)的游標測量的方法改為螺旋測微（將角位移轉換為直線(xiàn)位移），這樣讀數更加方便。該實(shí)驗儀可以作為大院校光學(xué)及近代物理實(shí)驗教學(xué)使用，也可以作為測量材料性、 光譜及磁光 作用的研究應用。

　　儀器主要參數：

　　1. 半導體激光器 波長(cháng) 650nm 輸出率 >1.5mW 光斑直徑 約1mm

　　2. 電磁鐵 大磁感應強度約1.35T（與勵磁電源有關(guān)）

　　3. 勵磁電源 大輸出電 5A 大輸出電壓 30V

　　4．低壓汞燈 啟輝電壓 1500V 燈管直徑 6.5mm

　　5．法布里－珀羅標準 通光口徑 40mm 間隔 2mm

　　6．讀數顯微鏡 分辨率 0.01mm 測量范圍 8mm

　　7．法拉效應 小測角約 2分