雙棱鏡光干涉實(shí)驗儀 型號；HAD-FD-FBI-B

1826年法家菲涅耳(Fresnel)用雙棱鏡將束相干光的波前分成兩分，形成分波面干涉，利用測量干涉條紋間距(毫米量),求得光的波長(cháng)(納米量)。此光干涉實(shí)驗的物理思想、實(shí)驗方法與測量巧,具有很深的教學(xué)價(jià)值。

雙棱鏡光干涉實(shí)驗儀 型號；HAD-FD-FBI-B本雙棱鏡光干涉實(shí)驗儀具有以下優(yōu)點(diǎn)：

1.配有半導體激光 (650.0nm)單色光源，半導體激光經(jīng)大幅度降低光強處理，用其作光源具有相干性且不傷害眼睛的優(yōu)點(diǎn)，可很方便調出圖像清晰干涉條紋，也為鈉光干涉條紋調節帶來(lái)方便，測量二種光的波長(cháng)行。

2.導軌和轉盤(pán)采用強度優(yōu)質(zhì)鋁合金材料、燕尾槽結構、轉盤(pán)靈活、不會(huì )生銹、經(jīng)久耐用、手感好。

3．帶有黑色擋光罩，可在白光及通風(fēng)條件下做光學(xué)實(shí)驗。

本儀器可供大院?；A物理實(shí)驗和性研究性物理實(shí)驗。

應用本儀器可以成以下實(shí)驗：

1．觀(guān)察雙棱鏡的干涉現象。

2．測量激光器的波長(cháng)以及鈉燈黃光的波長(cháng)。

3．觀(guān)察其他光源的雙棱鏡光干涉現象。

儀器主要參數：

1．導軌 長(cháng)80.0cm，分度值1mm；滑塊5只，其中1個(gè)滑塊上帶轉動(dòng)裝置。

2．帶轉盤(pán)的狹縫 縫寬約0.04mm。

3．測微目鏡和支架 測微目鏡量程0-8mm，分度值0.01mm。

4．光源 半導體激光器，光波長(cháng)650.0nm，已大幅度衰減光強。作電壓直3V。

5．鈉光燈及電源（選配）。