固體介質(zhì)折射率測定儀型號；HAD-FD-OE-3

折射率是反映介質(zhì)光學(xué)性質(zhì)的重要參數之。本儀器采用的實(shí)驗方法，在光學(xué)測量中具有典型性和基本要求的點(diǎn)。用測布儒斯角的方法測量透明介質(zhì)的折射率及利用測量激光照射半導體薄片的反射系數方法，測量分半導體如硅、砷化鎵等介質(zhì)的折射率。本儀器具有體積小，重量輕，調節方便，裝置牢靠，實(shí)驗數據穩定可靠等優(yōu)點(diǎn)。本儀器可用于基礎物理實(shí)驗，性與研究性物理實(shí)驗及物理奧林匹克競賽培訓實(shí)驗用。

固體介質(zhì)折射率測定儀型號；HAD-FD-OE-3

本儀器具有以下優(yōu)點(diǎn)：

　　1.采用強度優(yōu)質(zhì)鋁合金材料制成，表面經(jīng)陽(yáng)氧化處理 ,儀器重量輕、體積小、耐用、不會(huì )生銹，使用壽命長(cháng)。

　　2.帶有刻度的轉盤(pán)經(jīng)心和，轉動(dòng)輕巧靈活，讀數準確。

　　3.采用數字式光率計測量偏振光光強，測量結果穩定可靠。

　　4.有黑色遮光罩擋光，可在明光及通風(fēng)條件下做光學(xué)實(shí)驗，在同實(shí)驗室各組實(shí)驗互不干擾。

　　應用本儀器可以成以下實(shí)驗：

　　1. 光的偏振現象的觀(guān)察和分析，加深對光偏振規律的認識。掌握獲得線(xiàn)偏振光的知識及確定偏振片偏振方向的方法。

　　2. 用布儒斯定律，測量對可見(jiàn)光透明固體材料的折射率。

　　3．通過(guò)測量偏振光二個(gè)分量入射到介質(zhì)上反射光的反射系數，測量半導體硅等材料的折射率。

　　儀器主要參數：

　　1. 半導體激光器 波長(cháng)650nm，率 1.5-2.0mW，作電壓3V。

　　2. 轉盤(pán) 直徑為2.0cm，可調范圍0-360°，分度值1°。

　　3．水平光學(xué)轉臺 可 0-360゜轉動(dòng)，分度值 1°。

　　4．數字式光率計 量程有200uW和2mW二檔，三位半液晶顯示