北京恒奧德儀器儀表有限公司
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非線性元件伏安性實(shí)驗(yàn)儀HASD-FD-UI-B
非線性元件伏安性實(shí)驗(yàn)儀HASD-FD-UI-B 非線性元件伏安性曲線的測(cè)量是?;A(chǔ)物理實(shí)驗(yàn)課程的個(gè)重要實(shí)驗(yàn),也是科研中常用電磁學(xué)實(shí)驗(yàn)方法之。本儀器是根據(jù)校物理實(shí)驗(yàn)教學(xué)大綱中多個(gè)電學(xué)實(shí)驗(yàn)的要求而成。
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液體電導(dǎo)率測(cè)量實(shí)驗(yàn)儀型號(hào);HAD-FD-LCM-A
液體電導(dǎo)率測(cè)量實(shí)驗(yàn)儀型號(hào);HAD-FD-LCM-A HAD-FD-LCM-A液體電導(dǎo)率測(cè)量實(shí)驗(yàn)儀是種物理思想其豐富,實(shí)驗(yàn)方法巧妙,實(shí)驗(yàn)動(dòng)手能力訓(xùn)練內(nèi)容多,并有實(shí)際應(yīng)用價(jià)值的基礎(chǔ)物理實(shí)驗(yàn)教學(xué)儀器。
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微機(jī)型靜電場(chǎng)描繪實(shí)驗(yàn)儀型號(hào);HAD-FD-EFL-A
微機(jī)型靜電場(chǎng)描繪實(shí)驗(yàn)儀型號(hào);HAD-FD-EFL-A 在程上,常常需要知道電系統(tǒng)的電場(chǎng)分布情況,以便研究電子或帶電質(zhì)點(diǎn)在該電場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)規(guī)律。例如,為了研究電子束在示波管中的聚焦和偏轉(zhuǎn),這就需要知道示波管中電電場(chǎng)的分布情況。
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光學(xué)實(shí)驗(yàn)儀型號(hào);HAD-FD-MOE
光學(xué)實(shí)驗(yàn)儀型號(hào);HAD-FD-MOE 它可以做多種重要而基本的幾何光學(xué)和物理光學(xué)實(shí)驗(yàn),例如光偏振實(shí)驗(yàn),固體介質(zhì)折射率測(cè)定實(shí)驗(yàn),透鏡焦距測(cè)定實(shí)驗(yàn),單絲、單縫、小孔衍射實(shí)驗(yàn),太陽能電池基本性測(cè)定實(shí)驗(yàn)等等。
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透鏡焦距測(cè)定儀型號(hào)HAD-FD-0E-1
透鏡焦距測(cè)定儀型號(hào)HAD-FD-0E-1 用光具座以透鏡成像原理測(cè)量凸透鏡和凹透鏡的焦距是理科大學(xué)的個(gè)主要的光學(xué)物理實(shí)驗(yàn)。目前通用的光具座存在下列不足:體積大、易生銹、移動(dòng)不靈活且在暗室中做實(shí)驗(yàn)。給測(cè)量帶來不便。
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光偏振實(shí)驗(yàn)儀 型號(hào);HAD-FD-OE-2
光偏振實(shí)驗(yàn)儀 型號(hào);HAD-FD-OE-2 光的偏振現(xiàn)象是波動(dòng)光學(xué)中種重要現(xiàn)象,它在諸如光調(diào)制器、光開關(guān)、應(yīng)力分析、光信息處理、光通訊、激光儀及光電子器件等方面有著廣泛的應(yīng)用。
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固體介質(zhì)折射率測(cè)定儀型號(hào);HAD-FD-OE-3
固體介質(zhì)折射率測(cè)定儀型號(hào);HAD-FD-OE-3 折射率是反映介質(zhì)光學(xué)性質(zhì)的重要參數(shù)之。本儀器采用的實(shí)驗(yàn)方法,在光學(xué)測(cè)量中具有典型性和基本要求的點(diǎn)。用測(cè)布儒斯角的方法測(cè)量透明介質(zhì)的折射率及利用測(cè)量激光照射半導(dǎo)體薄片的反射系數(shù)方法,測(cè)量分半導(dǎo)體如硅、砷化鎵等介質(zhì)的折射率。
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太陽能電池性測(cè)定儀型號(hào);HAD-FD-OE-4
太陽能電池性測(cè)定儀型號(hào);HAD-FD-OE-4 能源的重要性人人皆知,為了經(jīng)濟(jì)持續(xù)發(fā)展及環(huán)境保護(hù),人們正大量開發(fā)其它能源如水能、風(fēng)能及太陽能的利用。其中以硅太陽能電池作為綠色能源其開發(fā)和利用大有發(fā)展前景。
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單絲和單縫衍射實(shí)驗(yàn)儀型號(hào);HAD-FD-OE-5
單絲和單縫衍射實(shí)驗(yàn)儀型號(hào);HAD-FD-OE-5 單絲、單縫和小孔衍射實(shí)驗(yàn)是校理科基本光學(xué)實(shí)驗(yàn)之。本儀器用半導(dǎo)體激光器為光源,觀察單絲、單縫和圓孔的夫瑯和費(fèi)衍射現(xiàn)象,以及絲徑、縫寬、孔徑的變化對(duì)衍射的影響,加深對(duì)光的衍射理論的理解,并利用衍射花樣測(cè)定單絲的直徑和單縫寬度。
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雙棱鏡光干涉實(shí)驗(yàn)儀 型號(hào);HAD-FD-FBI-B
雙棱鏡光干涉實(shí)驗(yàn)儀 型號(hào);HAD-FD-FBI-B 1826年法家菲涅耳(Fresnel)用雙棱鏡將束相干光的波前分成兩分,形成分波面干涉,利用測(cè)量干涉條紋間距(毫米量),求得光的波長(納米量)。此光干涉實(shí)驗(yàn)的物理思想、實(shí)驗(yàn)方法與測(cè)量巧,具有很深的教學(xué)價(jià)值。
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